產(chǎn)品列表PRODUCTS LIST
ceyear思儀6362C光譜分析儀采用*的雙通光柵分光單元、高分辨率衍射光柵定位、光學(xué)楔形延遲消偏振、小信號和寬波段光譜檢測等技術(shù)研制而成。整機性能指標(biāo)達到同類產(chǎn)品較高水平。
產(chǎn)品綜述
ceyear思儀6362C光譜分析儀
6362C光譜分析儀采用*的雙通光柵分光單元、高分辨率衍射光柵定位、光學(xué)楔形延遲消偏振、小信號和寬波段光譜檢測等技術(shù)研制而成。整機性能指標(biāo)達到同類產(chǎn)品較高水平。適用于600~1700nm波段范圍的LED、LD、SLD、DFB-LD、EDFA、光纖、光纖光柵、光學(xué)濾波器、光纖放大器、波分復(fù)用器等光電子元器件及有關(guān)系統(tǒng)的測試。
功能特點
主要特點
● 0.05nm小分辨帶寬
● -90 dBm電平測量靈敏度
● ndB損耗分析
● 包絡(luò)分析
● 測試數(shù)據(jù)存儲輸出
● 激光光源測試
● 光學(xué)濾波器測試
ceyear思儀6362C光譜分析儀
0.05nm小分辨帶寬
6362C光譜分析儀支持不同光譜分辨帶寬的設(shè)置,寬譜光源與窄譜線光源測試靈活切換。并且小分辨帶寬可達0.05nm。
-90 dBm電平測量靈敏度
通過低噪聲放大、雜散光抑制、數(shù)字濾波等技術(shù),極大地降低了儀器噪聲,提高了信噪比,電平測量靈敏度在1250nm~1600nm波段優(yōu)于-90dBm。
ndB損耗分析
產(chǎn)品具有強大的分析功能,快速分析光譜參數(shù),儀器自身就能完成復(fù)雜的計算。分析功能包括波峰檢索、閾值分析、損耗分析、邊模分析、包絡(luò)分析、均方根和光功率分析等,滿足您的全部需求。
包絡(luò)分析
測試數(shù)據(jù)存儲輸出
光譜測試數(shù)據(jù)可用.bmp或.osd格式文件存儲和輸出。
激光光源測試
儀器可以對多類型激光器進行一鍵測試與分析,實現(xiàn)所有測試項目批處理。
光學(xué)濾波器測試
除了半導(dǎo)體激光光源(DFB-LD、FP-LD、LED)光譜測量應(yīng)用外,儀器還集成了光纖偏振模色散測量應(yīng)用、波分復(fù)用應(yīng)用、光纖放大器應(yīng)用、LD模塊應(yīng)用、波分復(fù)用濾波器應(yīng)用、波分復(fù)用光纖放大器應(yīng)用等光譜應(yīng)用功能。
典型應(yīng)用
LED、SLD、ASE、FP-LD、DFB-LD光譜波形分析
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